報告題目：像差校正透射電子顯微鏡：它是如何運作的？為什么需要它？
報 告 人：劉宗文教授
講座時間：6月23日（周五）9:30-11:00
講座地點：友誼校區(qū)材料學院公字樓328會議室
邀 請 人：陳海燕副教授
承辦學院：材料學院
聯(lián) 系 人：陳海燕
聯(lián)系電話：15809277433
報告簡介：
In this lecturer, the basic principles on aberration collection will be first introduced, followed on by research examples achieved with modern aberration-corrected TEMs.
像差一直以來限制了透射電子顯微鏡的分辨率，直到半個世紀之前，像差校正才首次被提出，但是在近20年，像差校正才真正意義上得到了長足發(fā)展。在本次報告上，將會結合利用最新的像差校正透射電子顯微鏡所取得的研究成果來介紹像差采集的主要原理。
報告人簡介：
劉宗文，1999年在墨爾本大學獲得博士學位，現(xiàn)任澳大利亞悉尼大學化學與生物分子工程學院副教授，博士生導師，伊麗莎白女王二世獎勵計劃學者，專業(yè)為電子顯微學。2001至2004年在日本材料研究所（NIMS）任高級研究員（Senior Researcher）。2004年起在悉尼大學任教。劉宗文教授的主要研究方向是顯微分析技術在納米材料、金屬和陶瓷領域的合成與應用等，目前已經在Prog. Polym. Sci, Adv. Mater, JACS, Angew. Chem. Int等國際期刊上發(fā)表論文150余篇，論文總引用次數超過1000次。劉宗文教授還同時兼任Journal of OAtube Nanotechnology、Journal of Functional Materials Letter 等期刊的編委。
