報告題目：固/液界面下的靜電效應：適用于形成高縱橫比硅微結構和實驗芯片
（Electrostatic effects at solid/liquid interfaces：Application to the formation of high aspect ratio silicon microstructures and Lab-on-the-Chip）
報告人：Associate Professor Pascal KLEIMANN
講座時間：2017年9月13日（星期三）上午10:30-12:00
講座地點：航空樓B410機電學院第一會議室
邀請人：何洋副教授 苑曦宸助理教授
承辦學院：機電學院
聯系人：盧宇超
聯系電話：18829041036
報告簡介：
Electrostatic effects at interfaces are fundamentals in physics and are the source of numerous famous applications (photovoltaic cells, MOS transistors...). After a presentation of the distribution of electrical charges at interfaces, their properties and the key point of polarization, a special attention will be paid to the case of solid/liquid interfaces which are widely encountered in the field of microfluidics and Lap-On-a-Chip. We will show that electrostatic effects can be wisely used to sort, to detect, or to concentrate biomolecules. They can also be used to form high aspect ratio silicon submicrometer structures and membranes.
報告人簡介：
Pascal KLEIMANN 1992年畢業于法國里昂高等化學、物理及電子學校（CPE Lyon）的電子與信息處理學科的微電子專業，獲得工程師文憑。于1993年至1997年在里昂國立應用科學學院（INSA Lyon）的LPM研究所攻讀博士學位，期間作為主要參與人之一，參與從事“硼摻雜LPCVD多晶硅薄膜的高溫壓阻特性的重新評估”的基礎研究工作。于1997年至1998年在瑞士KTH大學的電子學院攻讀博士后，并于1998年回到法國里昂第一大學擔任講師。Pascal KLEIMANN現階段主要從事通過光電化學蝕刻微硅和納米結構硅、納米流體晶體管和微納流體系統應用于健康領域的研究與設計等3個方面的研究。
