分析測試中心計劃邀請具有國內一流TEM技術水平的專家來校，面向全校師生開展TEM技術講座，為師生如何應用TEM功能開展科研做出指導。并對分析測試中心工程技術人員提供技術指導，解決目前TEM測試過程中存在的一些實際問題，提高中心為全校師生提供TEM測試的技術水平。
一、講座目標
1、學校相關師生對電子顯微方法有進一步的了解，對如何應用學校高端設備開展科研有一些思考。
2、中心工程技術人員球差、掃描透射測試技術水平有進一步的提高，能夠為師生提供更高水平的測試。
3、通過技術交流能夠切實解決目前電鏡測試過程中存在的一些實際問題。
二、題目
電子衍射原理及在材料科學中的應用
三、報告人
蘇州納米所張錦平研究員
四、時間
2018年10月12日（周五），14:00—16:00
五、地點
友誼校區的研究生西館XA203
六、報告人簡介
張錦平，博士生導師，中國科學院蘇州納米技術與納米仿生研究所研究員，研究所測試平臺電子顯微鏡實驗室主要創建人。先后利用電子衍射、高分辨透射電子顯微術和納米束掃描透射電子顯微術對包括C, swt-C, CN，BN，GaN，TiO2，SnO2等材料的納米管/線、生物細胞中的量子點、磁性粒子、半導體量子點進行了詳細表征和研究；對陶瓷材料中的微疇結構進行了觀察，利用原位Lorentz顯微術對單疇和疇壁運動進行表征。在Nature, Nano Lett, Phys. Rev. B, APL等國際高水平刊物發表了五十余篇相關論文。近期研究為在半導體中缺陷與孿晶現象、無機和生物納米材料的結構與表征，特別是納米催化反應中表面與界面的結構現象。應用高分辨原子和元素成像，以及納米束顯微分析對納米材料生長、納米界面分析，以及納米晶體在生物細胞研究上的應用。曾研究高溫超導、氧化物、III-V族半導體量子阱、量子點和量子柱等的微結構及磁性材料的磁疇等。
七、主要內容
1、 倒易空間與電子衍射；
2、 電子散射的動力學與缺陷觀察的雙束方法；
3、 電子衍射方法與高階勞厄帶；
4、 位錯觀察的雙束方法：在明場/暗場的實現及弱束原理
內容簡介：倒易點陣是晶體學中極為重要的概念，利用倒易點陣不僅可以簡化晶體學中的某些計算問題，并且可以形象的解釋晶體的衍射現象。進一步通過實驗案列介紹常見的衍射實驗方法。簡單介紹雙束系統的基本概念和原理，重點將講述其在材料科學領域的典型應用，包括透射電鏡樣品的制備、微納尺度材料力學性能測試樣品的制備、材料三維成像及分析以及缺陷觀察的雙束方法等。
誠邀全校師生參加與交流！
校分析測試中心
2018年10月10日
